| 特許件名 |
発明者 |
出願番号
／出願日 |
登録番号
／登録日 |
概 要 |
| １．皮膜切断法による微粉末積層皮膜厚測定法 |
三好 滋 |
特願平5−271499
H5.10.29 |
特許第2522635号
H8.5.31 |
浸透探傷試験用現像剤を塗布したときの積層皮膜の厚さを、切断法により測定する方法 |
| ２．膜厚指示計を用いた微粉末積層皮膜厚測定法 |
三好 滋 |
特願平5−271500
H5.10.29 |
特許第2506557号
H8.4.2 |
浸透探傷試験用現像剤を塗布したときの積層皮膜の厚さを、膜厚指示計を用いて測定する方法 |
| ３．交流磁化を用いた強磁性体の溶接物の溶接後熱処理評価装置 |
志波 光晴 他 |
特願2000−62964
H12.3.8 |
特許第3355322号
H14.9.27 |
強磁性体の溶接構造物が熱処理されたかどうか及び熱処理した時の温度を、非破壊的で簡単に評価できる装置 |
| ４．交流磁化を用いた強磁性体構造物のクリープ損傷評価方法及び装置 |
志波 光晴 他 |
特願2000−62965
H12.3.8 |
特許第3461781号
H15.8.15 |
上記装置を、強磁性体金属材料及び溶接構造物のクリープ損傷評価に適用 |
５．Method and Apparatus for Visualizing Elastic Wave Propagation in a Solid Substance
（米国特許出願） |
古川 敬 他 |
09/695,911
2000.10.26 |
US6,535,828 B1
2003.3.18 |
超音波が固体内を伝わる様子を、目に見えるようにした（可視化）手法及び装置 |
| ６．超音波探触子の位置・首振り量の測定方法及び装置 |
古川 敬 他 |
特願2002−29015
H14.2.6 |
特許第3585467号
H16.8.13 |
超音波探触子の相対的な位置（または移動量）及び探触子の首振り量を自動的に測定する方法及び装置 |
| ７．非破壊高温クリープ損傷評価方法 |
志波 光晴 他 |
特願2002−308126
H14.10.23 |
特許第3728286号
H17.12.21 |
供用中のボイラなどの高温機器において、非破壊的に測定された物理量を用いて、クリープ損傷率を評価し、
余寿命時間を求める方法 |
| ８．クリープボイドの非破壊検出方法 |
志波 光晴 他 |
特願2002−308129
H14.10.23 |
特許第3803314号
H18.5.12 |
供用中のボイラなどの高温機器において、交流磁化測定により、簡便かつ非破壊的に現地においてクリープボイドを
検出する方法 |
| ９．渦電流探傷信号処理方法 |
兼本 茂 他 |
特願2006−027648
H18.1.6 |
特許第4235648号
H20.12.19 |
検査対象物表面の金属組織内部の自然欠陥を非破壊で外部から計測するための渦電流探傷信号処理方法 |
| １０．高Ｃｒ系鋼構造物のじん性評価方法 |
西川 聡 他 |
特願2008−198193
H20.7.31 |
特許第4664399号
H23.1.14 |
Cr含有量が8〜14wt%のラーベス相が析出する高Cr系鋼構造物で、アノード分極曲線を利用してじん性を評価する方法 |
